FYSS6310 Mittaustekniikat ja -järjestelmät (5 op)

Opinnon taso:
Syventävät opinnot
Arviointiasteikko:
0-5
Suorituskieli:
englanti, suomi
Vastuuorganisaatio:
Fysiikan laitos
Opetussuunnitelmakaudet:
2020-2021, 2021-2022, 2022-2023, 2023-2024

Kuvaus

  • SI-yksiköt

  • metrologia

  • fysikaalisten suureiden mittaus

  • anturit

  • häiriösuojaus

  • signaalinkäsittely

  • tietokoneavusteinen mittaus 

Osaamistavoitteet

Opintojakson suoritettuaan opiskelija osaa

  • nimetä SI-yksiköt ja selittää niiden määritelmät sekä selittää metrologian peruskäsitteet, kuten mittauksen jäljitettävyys, kalibraatio ja mittauksen epävarmuus.

  • selittää mittausjärjestelmän osien tehtävät ja verrata eri anturityyppejä ja valita sovellukseen sopivin.

  • mitata sähköisiä suureita, tunnistaa eri häiriölähteitä ja suojata mittauslaitteiston niiltä.

  • rakentaa yksinkertaisia mittausjärjestelmiä fysikaalisten suureiden mittaamiseen sekä toteuttaa yksinkertaisen tietokoneavusteisen mittauksen LabView ympäristössä.

  • selittää lock-in vahvistimen toimintaperiaatteen. 

Esitietojen kuvaus

FYSS6301 (Elektroniikka, osa A), suositellaan FYSS7116 (Integraalimuunnokset, erityisesti Laplace- ja Fourier muunnokset). 

Oppimateriaalit

Luentomateriaali  

Kirjallisuus

  • Regtien, P.P.L.: Measurement science for engineers, 2004, Butterworth-Heinemann, London. ISBN 1903996589

Suoritustavat

Tapa 1

Arviointiperusteet:
Läpäisyyn vaaditaan vähintään puolet pisteistä (esimerkiksi tentti 50 %, laboratoriotyöt 30 %, harjoitustehtävät 20 %).
Opetusajankohta:
Periodi 2
Valitaan kaikki merkityt osat
Suoritustapojen osat
x

Osallistuminen opetukseen (5 op)

Tyyppi:
Osallistuminen opetukseen
Arviointiasteikko:
0-5
Arviointiperusteet:
Läpäisyyn vaaditaan vähintään puolet pisteistä (esimerkiksi tentti 50 %, laboratoriotyöt 30 %, harjoitustehtävät 20 %).
Suorituskieli:
englanti, suomi
Työskentelytavat:
  • luennot

  • harjoitustehtävät

  • laboratoriotyöt

  • tentti 

Opetus