FYSS5456 Heliumionimikroskopia (1 op)

Opinnon taso:
Syventävät opinnot
Arviointiasteikko:
Hyväksytty - hylätty
Suorituskieli:
englanti, suomi
Vastuuorganisaatio:
Fysiikan laitos
Opetussuunnitelmakaudet:
2020-2021, 2021-2022, 2022-2023, 2023-2024

Kuvaus

  • Heliumionimikroskoopin toimintaperiaate

  • heliumionimikroskoopin tärkeimmät edut perinteiseen pyyhkäisyelektronimikroskooppiin nähden (resoluutio, kyky kuvantaa eristeitä, työstäminen neon-suihkulla)

  • heliumionimikroskoopin käytännön käyttö

  • näytteenvalmistus HIM-kuvantamiseen 

Osaamistavoitteet

Opintojakson suoritettuaan opiskelija osaa

  • esitellä heliumionimikroskoopin (HIM) toimintaperiaatteen ja päätellä tämän perusteella tekniikan edut ja rajoitukset muihin mikroskopiatekniikoihin verrattuna

  • opiskelija osaa arvioida ja perustella heliumionimikroskopian soveltuvuutta annettujen näytteiden kuvantamiseen (mm. biologiset näytteet, materiaalitieteen ja nanoteknologian näytteet)

  • hallitsee heliumionimikroskoopin periaatteet sekä käyttöönoton ja kuvantamisen vaiheet käytännössä siinä määrin, että hänet voidaan kouluttaa laitteen käyttöön lyhyessä ajassa. 

Oppimateriaalit

Luentomateriaali  

Kirjallisuus

  • David C. Joy, Helium Ion Microscopy – Principles and Applications, ISBN 978-1-4614-8659-6.

Suoritustavat

Tapa 1

Kuvaus:
Toteutetaan tarvittaessa.
Arviointiperusteet:
Tentti suoritettu hyväksytysti (50% kokonainaispisteistä) ja läsnäolo luennoilla tai korvaavat tehtävät.
Valitaan kaikki merkityt osat
Suoritustapojen osat
x

Osallistuminen opetukseen (1 op)

Tyyppi:
Osallistuminen opetukseen
Arviointiasteikko:
Hyväksytty - hylätty
Arviointiperusteet:
Tentti suoritettu hyväksytysti (50% kokonainaispisteistä) ja läsnäolo luennoilla tai korvaavat tehtävät.
Suorituskieli:
englanti, suomi
Työskentelytavat:
  • laboratoriodemonstraatiot

  • tentti

  • luennot (läsnäolo pakollista) 

Ei julkaistua opetusta