KEMS3250 Röntgendiffraktiomenetelmien perusteet (6 op)

Opinnon taso:
Syventävät opinnot
Arviointiasteikko:
0-5
Suorituskieli:
englanti, suomi
Vastuuorganisaatio:
Kemian laitos
Opetussuunnitelmakaudet:
2024-2025, 2025-2026, 2026-2027, 2027-2028

Avainteksti

X-ray diffraction in structural chemistry

Kuvaus

Kurssilla tutustutaan röntgendiffraktioon ja sen soveltamiseen yksittäiskiteiden rakennetutkimuksessa orgaanisen ja epäorgaanisen rakennekemian näkökulmasta.

  • Röntgendiffraktion ja sen rakennekemiallisen soveltamisen peruskäsitteet
    • Peruskirjallisuus ja ohjelmistot (SHELX, OLEX2, Mercury, CSD)
    • Röntgendiffraktion historia
    • Röntgensäteily ja sen luonne
    • Bragg’in laki, kidejärjestelmät ja kidesymmetria
    • Kiteytysmenetelmät, yksittäiskiteen kasvatus
    • Kiderakenneratkaisun periaatteet
    • Tuntemattoman kiderakenteen ratkaisu harjoitustyönä

Osaamistavoitteet

Opintojakso hyväksytysti suorittanut opiskelija

  • osaa röntgendiffraktion peruskäsitteet ja –termit.
  • ymmärtää röntgendiffraktion ja kiderakenteen välisen keskinäisen riippuvuuden.
  • ymmärtää molekyyli- ja kidesymmetrioiden väliset eroavuudet.
  • hallitsee yksittäiskiteen kasvatuksen keskeiset periaatteet.
  • ymmärtää yksikideröntgendiffraktion rakennetutkimusmenetelmänä.
  • osaa itsenäisesti käyttää SHELX, OLEX2, Mercury ja CSD ohjelmistoja tuntemattoman kiderakenteen ratkaisemiseen ja analysoimiseen.

Työelämätaidot

  • Hallitsee oman työn, tehtävien ja ajankäytön suunnittelun ja noudattaa sovittuja aikatauluja.
  • Osaa yhdistää ja soveltaa kurssilla oppimiaan asioita rakennekemiallisissa ongelmissa.
  • Osaa hankkia itsenäisesti tietoa ja laajentaa tietopohjaansa.
  • Osaa vastata annettuihin tehtäviin ja ongelmakokonaisuuksiin suullisesti ja kirjallisesti ja perustella vastauksensa tai mielipiteensä selkeästi.
  • Osaa keskustella yksikideröntgendiffraktiomenetelmän käytöstä käyttäen oikeaa terminologiaa ja käsitteistöä englanniksi ja suomeksi.
  • Ymmärtää kurssin aihepiiriin liittyvät tutkimuseettiset kysymykset ja ottaa ne huomioon tulevissa orgaaniseen tai epäorgaaniseen kemiaan liittyvissä rakennekemiallisissa tehtävissä.

Lisätietoja

Suositellaan suoritettavan maisteriopintojen toisena vuotena.

Esitietojen kuvaus

Kemian aineopinnot

Pakolliset esitiedot

Oppimateriaalit

  • Werner Massa, Crystal structure determination, Springer-Verlag Berlin Heidelberg, Germany, 2000 (ISBN: 3-540-65970-6)
  • luentomateriaali

Suoritustavat

Tapa 1

Arviointiperusteet:
Kurssin suorittamiseen hyväksytysti (1/5) vaaditaan vähintään 50% kurssin maksimipisteistä.
Opetusajankohta:
Periodi 3
Valitaan kaikki merkityt osat

Tapa 2

Arviointiperusteet:
Kurssin suorittamiseen hyväksytysti (1/5) vaaditaan vähintään 50% tentin maksimipisteistä.
Valitaan kaikki merkityt osat
Suoritustapojen osat
x

Osallistuminen opetukseen (6 op)

Tyyppi:
Osallistuminen opetukseen
Arviointiasteikko:
0-5
Suorituskieli:
englanti, suomi
Työskentelytavat:

Kurssi suoritetaan harjoitustehtävillä, osallistumalla laitedemonstraation ja kurssin päätteksi järjestettävällä lopputentillä. Opetuskieli tarvittaessa englanti.

Opetus

x

Tentti (6 op)

Tyyppi:
Tentti
Arviointiasteikko:
0-5
Suorituskieli:
englanti, suomi

Opetus