FYSS6310 Mittaustekniikat ja -järjestelmät (5 op)

Avaa opintojakson esite Sisussa
Opinnon taso:
Syventävät opinnot
Arviointiasteikko:
0-5
Suorituskieli:
englanti, suomi
Vastuuorganisaatio:
Fysiikan laitos
Opetussuunnitelmakaudet:
2024-2025, 2025-2026, 2026-2027, 2027-2028

Kuvaus

  • SI-yksiköt

  • metrologia

  • fysikaalisten suureiden mittaus

  • anturit

  • häiriösuojaus

  • signaalinkäsittely

  • tietokoneavusteinen mittaus

  • yksinkertaisen Arduino kehitysalustaan pohjautuvan mittauslaitteiston suunnittelu, rakentaminen ja testaaminen

Osaamistavoitteet

Opintojakson suoritettuaan opiskelija osaa

  • nimetä SI-yksiköt ja selittää niiden määritelmät sekä selittää metrologian peruskäsitteet, kuten mittauksen jäljitettävyys, kalibraatio ja mittauksen epävarmuus.

  • selittää mittausjärjestelmän osien tehtävät ja verrata eri anturityyppejä ja valita sovellukseen sopivin.

  • mitata sähköisiä suureita, tunnistaa eri häiriölähteitä ja suojata mittauslaitteisto niiltä.

  • selittää tyypillisesti fysikaalisten suureiden mittauksissa käytettävien antureiden toimintaperiaateet.

  • rakentaa yksinkertaisia mittausjärjestelmiä fysikaalisten suureiden mittaamiseen sekä toteuttaa yksinkertaisen tietokoneavusteisen mittauksen LabView ympäristössä.

Esitietojen kuvaus

FYSS6301 (Elektroniikka, osa A)

Oppimateriaalit

Luentomateriaali  

Kirjallisuus

  • Regtien, P.P.L.: Measurement science for engineers, 2004, Butterworth-Heinemann, London. ISBN 1903996589

Suoritustavat

Tapa 1

Arviointiperusteet:
Läpäisyyn vaaditaan vähintään puolet pisteistä. Kurssin arvosana muodostuu esimerkiksi seuraavilla painotuksilla: tentti 40 %, Arduino -projekti 30 %, harjoitustehtävät 30 %.
Opetusajankohta:
Periodi 2
Valitaan kaikki merkityt osat
Suoritustapojen osat
x

Osallistuminen opetukseen (5 op)

Tyyppi:
Osallistuminen opetukseen
Arviointiasteikko:
0-5
Suorituskieli:
englanti, suomi

Opetus