FYSS5456 Heliumionimikroskopia (1 op)

Opinnon taso:

Syventävät opinnot

Arviointiasteikko:

Hyväksytty - hylätty

Suorituskieli:

englanti, suomi

Vastuuorganisaatio:

Fysiikan laitos

Opetussuunnitelmakaudet:

2020-2021, 2021-2022, 2022-2023, 2023-2024

Kuvaus

Heliumionimikroskoopin toimintaperiaate
heliumionimikroskoopin tärkeimmät edut perinteiseen pyyhkäisyelektronimikroskooppiin nähden (resoluutio, kyky kuvantaa eristeitä, työstäminen neon-suihkulla)
heliumionimikroskoopin käytännön käyttö

Opintojakson suoritettuaan opiskelija osaa

esitellä heliumionimikroskoopin (HIM) toimintaperiaatteen ja päätellä tämän perusteella tekniikan edut ja rajoitukset muihin mikroskopiatekniikoihin verrattuna
opiskelija osaa arvioida ja perustella heliumionimikroskopian soveltuvuutta annettujen näytteiden kuvantamiseen (mm. biologiset näytteet, materiaalitieteen ja nanoteknologian näytteet)
hallitsee heliumionimikroskoopin periaatteet sekä käyttöönoton ja kuvantamisen vaiheet käytännössä siinä määrin, että hänet voidaan kouluttaa laitteen käyttöön lyhyessä ajassa.

Luentomateriaali

David C. Joy, Helium Ion Microscopy – Principles and Applications, ISBN 978-1-4614-8659-6.

Kuvaus:

Toteutetaan tarvittaessa.

Arviointiperusteet:

Tentti suoritettu hyväksytysti (50% kokonainaispisteistä) ja läsnäolo luennoilla tai korvaavat tehtävät.

Valitaan kaikki merkityt osat

Suoritustapojen osat

Tyyppi:

Osallistuminen opetukseen