KEMS3250 Röntgendiffraktiomenetelmien perusteet (6 op)
Kuvaus
Sisältö
Kurssilla käsitellään röntgenkristallografian perusteita (mm. röntgen säteilyn synty, kidejärjestelmät, symmetria), laite- ja mittaustekniikkaa (yksikidediffraktio) ja kiderakenteen ratkaisemiseen sekä ratkaisun kuvantamiseen liittyviä metodeja sekä ohjelmistoja. Kurssi sisältää laitedemonstraation ja harjoitustyön (kiderakenteen ratkaisu).
Suoritustavat
Kurssi suoritetaan harjoitustehtävillä, osallistumalla laitedemonstraation ja kurssin päätteksi järjestettävällä lopputentillä.
Arviointiperusteet
Kurssi suoritetaan harjoitustyöllä ja kurssin päätteksi järjestettävällä lopputentillä.
Kurssi voidaan suorittaa myös kirjatenttinä.
Kurssin lopuksi suoritettavan lopputentin, yleisen tentin ja kirjatentin maksimipistemäärä on 24. Alimpaan hyväksyttyyn arvosanaan (1/5) tarvitaan 50% pisteistä.
Osaamistavoitteet
Hahmottaa yksikiderakenneratkaisumenetelmän kokeellisella tasolla sekä tiedostaa mittaustekniikkaan liittyviä näyte- ja laiteteknisiä muuttujia.
Lisätietoja
Kurssi luennoidaan vuosittain kolmannessa jaksossa.
Esitietojen kuvaus
Oppimateriaalit
Tenttimateriaali: luentomateriaali ja oppikirja (Werner Massa, Crystal structure determination, Springer-Verlag Berlin Heidelberg, Germany, 2000)